OPAL-MD – 多芯片探针台

–适用于集成光子学自动化测试探针台

对光子集成电路 (PIC) 进行准确、自动、快速和经济高效的测试，测试结果可追溯。

OPAL-SD – 单裸片自动化探针台

—适用于集成光子器件的半自动测试台

非常精准、可重复、可追溯、快速且灵活的光子集成电路（PIC）测试。

产品特点

• 在一次自动化测试中对多个切割好的裸片进行表征
• 完整的 PIC 测试平台，可进行精确、可重复的光学对准和电气探测
• 利用随附的 PILOT 软件套件进行准备、自动执行（导航、校准、仪器控制）和数据管理（存储、分析）
• 设计灵活，配有可重新定位的光学和电子射频/直流探头
• 根据需要提供不同的光学探头选项：多达 6 个电动轴，用于单纤或光纤阵列的表面和边缘耦合

应用领域

• 从研发、设计验证、工艺开发到试生产
• 自动测试多项目晶圆（MPW）中的切割出来的多个裸片
• 深入分析统计电路性能和产量
• 在任何集成光子平台上进行光电测试：硅光子、磷化铟、III-V、聚合物、异质材料等
• 与应用无关：电信和数据通信收发器、传感器等

产品规格