EXFO CTP10 – 无源光器件测试平台

性能强大的无源光器件测试平台,适用于测试WDM器件和光子集成电路。

  • 扫频测量插损(IL)、偏振相关损耗(PDL)或回损(RL)

    业内率先支持全波段PDL测量,覆盖从1260 nm到1620 nm的波长

    以100 nm/s的速度进行单次扫描,动态范围>70 dB,精度为±5 pm,分辨率为1 pm

  • 配备强大的图形用户界面(GUI),内置先进的分析功能

    采用可扩展的架构,适用于研发和制造环境

    通过SCPI命令实现全自动化操作