仪器仪表
光器件与光芯片
光纤熔接处理设备
激光器与放大器设备
工艺设备
3D打印微透镜光探针主要是用于光电子集成电路芯片(PIC)测试，适用于晶圆级边缘耦合(edge coupling)测试，以及裸die级边缘耦合和光栅耦合测试，并可根据用户需求提供多种规格和定制选项。
OPAL-MD 多芯片测试台通过精确、可重复、灵活和快速的硬件为集成光子学提供高性能鉴定。PILOT 软件套件增强了OPAL-MD 硬件功能，提供了一个自动测试台和一个可转化为可操作数据的高质量测量源。这套完整的应用软件是一个支持完整测试和测量流程的平台，可帮助用户提高数据驱动能力。OPAL-MD 与 EXFO 先进的光学测量功能相结合，并对任何第三方仪器开放，是 PIC 测试的完整平台。
OPAL-EC：端面耦合的晶圆级测试台--适用于集成光子器件的自动化测试台，执行精准、可重复、灵活、快速的光子集成电路（PIC）测试，提供可追溯的测试结果。
